原位樣品桿知識：一文認(rèn)識原位透射電鏡技術(shù)

在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中，觀察和理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)是至關(guān)重要的。我們通過幾個方面梳理原位透射電鏡技術(shù)的概念、發(fā)展和應(yīng)用等方面來更好的幫助大家認(rèn)識原位透射電子顯微技術(shù)。

傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡（transmission electron microscopy，簡稱TEM）是一種用來觀察材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的強大工具,對于材料學(xué)科的發(fā)展起到了巨大的推動作用。許多新型的納米材料、材料結(jié)構(gòu)和性能之間的關(guān)聯(lián)、材料物理化學(xué)反應(yīng)機理等研究成果不斷涌現(xiàn)。然而，因為傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡（TEM）觀測只能對材料在真空環(huán)境下進行靜態(tài)表征，而許多材料的性能和行為在不同環(huán)境或?qū)嶋H工作條件下可能發(fā)生變化，傳統(tǒng) TEM 無法提供與之相關(guān)的信息。

由此，原位透射電鏡（in-situ transmission electron microscopy，簡稱 in-situ TEM）應(yīng)運而生，該項技術(shù)允許研究人員在實時觀察和操控樣品的條件下進行高分辨率成像和表征。并能夠?qū)崿F(xiàn)直接從原子層次觀察樣品在力、熱、電、磁作用下以及在化學(xué)反應(yīng)過程中研究材料的結(jié)構(gòu)和行為，并直接觀察相變、位錯運動、晶體生長等動態(tài)過程。通過 in-situ TEM，研究人員可以更深入地了解材料的性能、相互作用和響應(yīng)機制，一度成為材料研究尤為熱門的工具。

原位透射電子顯微技術(shù)（in-situ TEM）是一種顯微鏡技術(shù)，可以在原子尺度下實時觀察材料的結(jié)構(gòu)和行為。它結(jié)合了透射電子顯微鏡和原位實驗技術(shù)，通過在不同環(huán)境條件下對材料進行觀察，揭示材料在真實工作環(huán)境下的行為和變化過程。

與傳統(tǒng)透射電子顯微鏡技術(shù)相比，原位透射電子顯微鏡技術(shù)的主要區(qū)別在于其實時觀察能力和對材料的動態(tài)行為的研究。傳統(tǒng)透射電子顯微鏡主要用于對固定樣品的靜態(tài)觀察，而原位透射電子顯微鏡技術(shù)允許研究人員在材料受到外部刺激或不同環(huán)境條件下進行實時觀察。

此外，原位透射電子顯微技術(shù)還具有以下特點和優(yōu)勢：

1. 高分辨率：原位透射電子顯微技術(shù)具有很高的分辨率，可以觀察到材料的細(xì)微結(jié)構(gòu)和原子級別的細(xì)節(jié)。

2. 實時觀察：該技術(shù)能夠提供實時的觀察能力，使研究人員可以在材料發(fā)生變化的過程中進行觀察和記錄。

3. 多尺度觀察：原位透射電子顯微技術(shù)可以在不同尺度上觀察材料的結(jié)構(gòu)和行為，從宏觀到納米級別。

4. 環(huán)境控制：該技術(shù)允許在不同環(huán)境條件下進行觀察，如高溫、低溫、高壓、不同氣氛等，模擬材料在實際應(yīng)用中的工作環(huán)境。

原位透射電子顯微技術(shù)通過結(jié)合高能電子束、實時觀察和環(huán)境控制，為研究人員提供了一種強大的工具，用于揭示材料的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)和動態(tài)行為，以推動材料科學(xué)和相關(guān)領(lǐng)域的研究和應(yīng)用發(fā)展。